Hoher wissenschaftlicher Anspruch und enger Industriebezug – das muss sich nicht widersprechen. Die Dissertation des Bremer Informatikers Stephan Eggersglüß von der Arbeitsgruppe Rechnerarchitektur unter der Leitung von Professor Rolf Drechsler wurde auf dem European Test Symposium (ETS) als alleiniger Sieger unter allen internationalen Beiträgen gekürt. Neben Mitbewerbern aus Deutschland gab es unter anderem auch Präsentationen aus Großbritannien, Brasilien und den USA. Das Symposium ist die führende Fachtagung im Bereich des Testens von Schaltungen und Systemen in Europa und wird vom Test Technology Technical Council (TTTC) der IEEE Computer Society (IEEE: Institute of Electrical and Electronics Engineers) ausgerichtet. Die Jury setzte sich zusammen aus Professoren und Vertretern der Industrie. Sie bewertete die eingereichten Arbeiten sowohl auf ihre wissenschaftliche Relevanz für das Fachgebiet als auch auf ihren Praxisbezug und die industrielle Verwertbarkeit.

Im Zuge seiner Promotion entwickelte Eggersglüß in enger Zusammenarbeit mit dem Industriepartner NXP Semiconductors (früher Philips) zuverlässige Verfahren zur Testmustergenerierung für den Produktionstest digitaler Schaltungen. Der Produktionstest ist ein sehr wichtiger Teil des Fertigungsablaufs von Computerchips. Er stellt die Korrektheit der gefertigten Schaltungen sicher, welche durch die laufend kleiner werdenden Strukturen immer anfälliger für Fehler werden. Da die Schaltungen heutzutage in immer mehr sicherheitskritischen Bereichen, wie z.B. medizinische Apparaturen oder Luftfahrt, Anwendung finden, ist die korrekte Funktionalität der gefertigten Chips von enormer Wichtigkeit. Ein Großteil der Kosten für die Fertigung wird durch den Produktionstest verursacht. Neue Verfahren sind deshalb von der Industrie stark nachgefragt.

Auch wissenschaftlich ist die Arbeit von Eggersglüß herausragend. So ist er Mitautor von zahlreichen Konferenzbeiträgen und hat schon an drei Artikeln mitgearbeitet, die in den weltweit führenden Fachzeitschriften erschienen sind.

Der Bremer Informatiker vertritt Europa in der Endrunde

Erstmalig wird im November 2010 auch der TTTC's E. J. McCluskey Best 2010 Doctoral Thesis Award auf der International Test Conference (ITC) in Austin, Texas (USA),

verliehen. Durch den Sieg auf der europäischen Fachtagung qualifiziert sich Stephan Eggersglüß für die Teilnahme an dem Wettbewerb, wo neben ihm die beiden Sieger der Fachtagungen aus Nord- sowie Südamerika teilnehmen. Der TTTC's E. J. McCluskey Best 2010 Doctoral Thesis Award zeichnet die Doktorarbeit mit dem größten Einfluss weltweit auf die Test-Technologie aus.

Wetere Informationen:
Universität Bremen
Fachbereich Mathematik/ Informatik
AG Rechnerarchitektur
Prof. Dr. Rolf Drechsler
Stephan Eggersglüß



Tel. 0421 218 6 39 36
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