Stephan Eggersglüß von der Arbeitsgruppe Rechnerarchitektur unter der Leitung von Professor Rolf Drechsler hat für seine Dissertation zur Steigerung der Qualität des Testens als Arbeit mit dem stärksten Einfluss auf den Produktionstest eine internationale Auszeichnung erhalten. In zunehmendem Maße sind wir heute von Elektronik umgeben. MP3-Player und Handys sind aus dem Alltag kaum noch wegzudenken. In vielen Bereichen vertrauen wir sogar unser Leben elektronischen Systemen an – oftmals ohne es zu wissen. Wenn wir ein Flugzeug besteigen oder die Bremse eines modernen Autos betätigen: ohne Elektronik ist das nicht mehr denkbar.
Daher werden sehr große Anforderungen an den Test solcher Apparaturen gestellt. Doch heutige Computerchips bestehen oft aus mehreren Milliarden Komponenten, die auf nur wenigen Quadratzentimetern Platz finden. Einen Fehler zu finden, lässt sich damit vergleichen, den Kopf einer Stecknadel im Weserstadion mit einem Fernglas zu suchen. Daher werden heutzutage bereits über 50% der Herstellungskosten von Computerchips für deren Test ausgegeben.
Eggersglüß hat neue Verfahren entwickelt, die es erlauben, die Qualität von Produktionstests zu erhöhen. Für Schaltungen aus der Industrie gelang es ihm zum Beispiel die Anzahl der geprüften Komponenten von 99,5 % auf 99,8 % zu steigern. Was zunächst vernachlässigbar scheint, offenbart sich bei genauerer Betrachtung. Wenn ein Schaltkreis 1 Milliarde Komponenten besitzt, so entsprechen 0,3% drei Millionen Elemente, die ansonsten ungeprüft geblieben wären. Nur durch hochqualitative Testverfahren lassen sich zuverlässige Produkte entwickeln. Es gelang ihm mit wissenschaftlich sehr anspruchsvollen Methoden praktisch relevante Probleme in Kooperation mit dem Industriepartner Philips/NXP zu lösen. Die Leistung ist besonders hoch zu bewerten, da die Generierung von guten Testmustern ein sehr intensiv untersuchtes Gebiet ist. Umso überraschender ist es, dass es Eggersglüß gelang, die existierenden Methoden deutlich zu verbessern.
Auf der Tagung International Test Conference (ITC) – der weltweit führenden Fachtagung mit über 2000 Besuchern – wurde seine Arbeit als die beste für das Jahr 2010 ausgezeichnet. In Anerkennung seiner besonderen Leistung wurde Stephan Eggersglüß der E. J. McCluskey Best 2010 Doctoral Thesis Award des Test Technology Technical Council (TTTC) der IEEE Computer Society verliehen. Die Doktorarbeit wurde von Prof. Dr. Rolf Drechsler betreut und im Oktober 2010 mit dem Prädikat „summa cum laude“ abgeschlossen.
