Oberflächenphysik - AG Falta

Profil

Die Arbeitsgruppe Oberflächenphysik beschäftigt sich mit strukturellen und chemischen Aspekten niederdimensionaler funktionaler Systeme mit hohem Anwendungspotential. Wir untersuchen gegenwärtig neuartige Halbleiter (auch organische Halbleiter), Metalloxide auf Metalloberflächen, und Materialien mit strukturellen Phasenübergängen. Aktuelle Forschungsbeispiele finden sich in den Projektbeschreibungen und in der Literaturliste.

Für die Untersuchungen setzen wir in unseren Labors die niederenergetische Elektronenmikroskopie (LEEM), Rastertunnelmikroskopie (STM), Röntgenphotoelektronenspektroskopie (XPS) und die Elektronenbeugung (LEED) ein. Hinzu kommt eine Reihe von ein- bis zweiwöchigen Messzeiten an Synchrotronstrahlungsquellen (in Triest, Barcelona, Hamburg, Lund u.a.), in denen wir mittels spezialisierter Messmethoden, wie Photoelektronenmikroskopie (PEEM), winkelaufgelöster Photoelektronenspektroskopie (ARPES) und Röntgenbeugung ergänzende Informationen gewinnen um physikalische Fragestellungen rund um die Beziehung zwischen Struktur und Funktion von Materialien zu beantworten.