Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  X-Ray Diffraction
• Techniken

  Single-crystal X-ray Diffraction
  
• Hersteller

  Bruker
• Herstellungsjahr

  2014
• Gemessene Größe

  X-ray diffraction (XRD) patterns
• Hauptanwendung

  Single-crystal X-ray diffraction
• In-situ, real-time kompatibel

  Ja
• Einrichtung

  Der Zugang zu diesem Gerät ist über die MAPEX Core Facility for Materials Analytics möglich.

Spezifikationen des Geräts

• Technische Aspkete

  microfocus source

• In-situ-Möglichkeiten

  Measurements from100 K to 293 K

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Enno Lork
  Fachbereich 2
  
  Telefonnummer
  enno.lorkprotect me ?!uni-bremenprotect me ?!.de
• Führender Anwendungswissenschaftler

  Beckmann, Jens