Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  Electron Microscopy
• Techniken

  Transmission Electron Microscopy
  
• Hersteller

  FEI
• Herstellungsjahr

  2007
• Gemessene Größe

  Morphological quantities, Elemental distribution, Strain distribution
• Hauptanwendung

  (Scanning) transmission electron microscopy
• In-situ, real-time kompatibel

  Ja
• Korrelierter Arbeitsablauf verfügbar

  Ja
• Einrichtung

  Der Zugang zu diesem Gerät ist über die MAPEX Core Facility for Materials Analytics möglich.

Spezifikationen des Geräts

• Technische Aspkete

  Electron energy loss spectrometer;

  EDX detector and HAADF detectors;

  Tomography holder;

  Heating(RT-1000°C)/cooling(lN2-70°C) holder;

  Electron biprism

   

• In-situ-Möglichkeiten

  Temperatures (RT-1000°C, lN2-70°C), Electrical biasing
• Korrelierter Arbeitsablauf

  Correlation with FIB/SEM and any other technique that allows marking of specimen positions for FIB/SEM

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Thorsten Mehrtens
  Fachbereich 1
  NW1, M4190
  Telefonnummer 0421/218/62273
  mehrtensprotect me ?!ifp.uni-bremenprotect me ?!.de
• Marco Schowalter
  Fachbereich 1
  NW1, M4180
  Telefonnummer 042121862263
  schowalterprotect me ?!ifp.uni-bremenprotect me ?!.de
• Führender Anwendungswissenschaftler

  Andreas Rosenauer
  

Gerätestandort

• Gruppe

  AG Rosenauer
• Gebäude

  NW1
• Raum

  O0050
• Fachbereich

  Fachbereich 1
• Institut Der Universität Bremen

  IFP