Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
- Gerät
HerstellerEM 900
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron MicroscopyKernmerkmaleFast morphological characterizationKontakt - Gerät
HerstellerJSM-6510 SEM
JeolUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleSE and BE detectors; EDX detector for quantitative chemical analysisKontakt - Gerät
HerstellerSpectra 300
ThermoFisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron MicroscopyKernmerkmaleIn-situ heating and cooling; EDX detector; Electrical biasingKontakt - Gerät
HerstellerTitan 80-300 ST
FEIUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron MicroscopyKernmerkmaleAberration corrector for imaging lens; In-situ heating and coolingKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmalehigh resolution In-lens-detector, low kV ESB and high kV backscatter electronKontakt - Gerät
HerstellerFocused Ion Beam
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleGas injection system, e-beam writing system, energy selected backscattered electron detectionKontakt - Gerät
HerstellerSupra 40
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleThe Inlens-Detector with its high detection efficiency allows the imaging of nanoparticles as small as 15 nm. The special electron optics, which lead to very good results, especially in low-voltage applications.Kontakt - Gerät
HerstellerHelios 600
FEI / ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleCryo-FIB, Slice&ViewKontakt