Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  Surface Analytics
• Techniken

  Atomic Force Microscopy
  
• Hersteller

  Bruker
• Herstellungsjahr

  2015
• Gemessene Größe

  Surface heights, Surface forces, Mechanical properties
• Hauptanwendung

  Analysis of chemical kinetics during dissolution/ corrosion, growth, and adsorption of materials
• In-situ, real-time kompatibel

  Ja

Spezifikationen des Geräts

• Technische Aspkete

  Scan head for fast measurements (100 Hz), FOV =  30 µm x 30 µm

  Low noise level < 200 pm RMS

  Second scan head for large FOVs up to 80 µm x 80 µm

  Measurement modes include contact, tapping, phase imaging, force spectroscopy, electrochemical potential

• In-situ-Möglichkeiten

  Measurements in fluid cells with fluid temperature up to 60°C

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Andreas Lüttge
  Fachbereich 5
  GEO
  Telefonnummer 0421-218-65233
  aluttgeprotect me ?!marumprotect me ?!.de
• Cornelius Fischer
  
  Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf
  Telefonnummer +493512604660
  c.fischerprotect me ?!hzdrprotect me ?!.de
• Führender Anwendungswissenschaftler

  Andreas Lüttge
  

Gerätestandort

• Gruppe

  Mineralogy
• Gebäude

  GEO
• Raum

  3220
• Fachbereich

  Fachbereich 5