Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
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Gerät
HerstellerFastScanning AFM
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
KernmerkmaleFast scans (> 125 Hz) Air or fluid environments; Range of 90 µm x 90 µm; Reduced noise levelKontakt -
Gerät
HerstellerJPK Nanowizard III
JPK Berlin GermanyUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
KernmerkmaleSub-nm resolution; Compatible with liquid and biological samples; Force spectroscopy mode availableKontakt -
Gerät
HerstellerRc-VSI
Bruker/RenishawUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopy coupled with Vertical Scanning Interferometry
KernmerkmaleRaman equipped with 785 nm and 532 nm class 3B lasers; Interferometer equipped with 5x; 20x; 50x; 115x objectives; White light scanning and monochromatic phase shift modes availableKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnik3D Laser Lithography
Kernmerkmale3D laser lithography; Direct laser writing; Structure fabrication; Surface modificationKontakt -
Gerät
HerstellerPLµ2300 Sensofar
Sensofar-Tech, S.L.UntersuchungsgebieteTechnik3D Profilometery
KernmerkmaleConfocal conventional and interferometer microscopeKontakt -
Gerät
HerstellerBELSORP-mini
MicrotracBEL Corp.UntersuchungsgebieteTechnikVolumetric Gas Adsorption
KernmerkmaleSpecific surface area; Pore size distribution; N2 and CO2 adsorption; BETKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikElectron Microprobe Analysis
Kernmerkmale5 x-ray spectrometers, one for light elementsKontakt -
Gerät
HerstellerSurPass streaming potential measurement
Anton PaarUntersuchungsgebieteTechnikZeta potential
KernmerkmaleAnalysis of bulk material, flat surfaces, porous samples, particles or beadsKontakt -
Gerät
HerstellerTA Instruments DHR-3
TA InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikRheology
KernmerkmaleEquipped with a 2-d couette interfacial shear geometryKontakt -
Gerät
HerstellerOCA-1
DataphysicsUntersuchungsgebieteTechnikDrop Shape Profilometry
KernmerkmaleContact angle and surface tension measurements; Dilatational viscoelastic properties of interfacesKontakt -
Gerät
HerstellerDual Beam Helios G4 PFIB
ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikElectron/Ion beam
KernmerkmaleDual beam SEM (electrom, ion), EDX, EBSD, ToF-SIMSKontakt -
Gerät
HerstellerDimension Icon XR
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
Kernmerkmale-Kontakt -
Gerät
Hersteller(AR)XPS/UPS/LEED/TPD
SPECSUntersuchungsgebieteTechnikThermal programmed desorption
Photoemission spectroscopy
Low-energy Electron Diffraction
Kernmerkmale-Kontakt -
Gerät
HerstellerHelios 600
FEI / ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleCryo-FIB, Slice&ViewKontakt