Instrument Database
Spectroscopy
Low-energy electron microscope
Allgemeine Informationen
- Untersuchungsgebiete
- TechnikenLow-energy Electron Microscopy
- HerstellerElmitec
- Herstellungsjahr2010
- Gemessene Größesurface morphology, surface structure
- Hauptanwendungin situ structural characterization of near-surface transformation processes in real-time
- In-situ, real-time kompatibelJa
Spezifikationen des Geräts
- Technische Aspkete
Low-energy electron microscopy is a full-field diffractive imaging technique that allows imaging the morphology and surface structure of a crystalline sample at a lateral resolution down to about 10 nm for fields of view in the range of 3 to 50 microns at video rates (~10 Hz). Vertical resolution is limited to imaging of atomic surface steps.
Preferred sample characteristics: flat, mono- or polycrystalline specimens up to 9x9 mm2, thickness up to 2 mm
- In-situ-MöglichkeitenTemperature range during operation: 300 - 1300 K; Gas dosing from ultra-high vacuum up to 10-4 mbar during operation;
Kontaktperson
- AnwendungswissenschaftlerJon-Olaf Krisponeit
Fachbereich 1
NW 1, W4120
Telefonnummer 62248
krisponeitprotect me ?!ifp.uni-bremenprotect me ?!.de - Jens Falta
Fachbereich 1
NW 1, W4190
Telefonnummer 62244
faltaprotect me ?!ifp.uni-bremenprotect me ?!.de - Führender AnwendungswissenschaftlerJens Falta
Gerätestandort
- GruppeAG Falta
- GebäudeNW1
- RaumM0040
- FachbereichFachbereich 1
- Institut Der Universität BremenIFP