Instrument Database

Allgemeine Informationen

Spezifikationen des Geräts

  • Technische Aspkete

    EDX detector, HAADF detector;

    Tomography holder;

    heating(RT-1000°C)/cooling(lN2-70°C) holder;

    Electrical Biasing holder;

    Monochromator

  • In-situ-Möglichkeiten
    Temperatures, Electrical biasing
  • Korrelierter Arbeitsablauf
    Correlation with FIB/SEM and any other technique that allows marking of specimen positions for FIB/SEM.

Kontaktperson

Gerätestandort

  • Gebäude
    NW1
  • Raum
    O0050
  • Fachbereich
    Fachbereich 1
  • Institut Der Universität Bremen
    IFP
Aktualisiert von: MAPEX