Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  Surface Analytics
• Techniken

  3D Profilometery
  
• Hersteller

  Sensofar-Tech, S.L.
• Herstellungsjahr

  2008
• Gemessene Größe

  3D topography; surface roughness
• Hauptanwendung

  3D surface metrology, Measurement and characterization of micro-scale features of surfaces

Spezifikationen des Geräts

• Technische Aspkete

  Horizontal resolution: 0.3-4.7 µm

  Vertical resolution: confocal 1 nm, interferometer 0.1 nm

  Horizontal measuring range: confocal 1.9x2.5 mm, interferometer 3.8x5.1 mm (objective-dependent)

  Vertical measuring range: confocal 50 mm, interferometer 100 µm.

  Objective: confocal 10x, 20x, 50x, 150x, interferometer 10x, 50x.

   

   

   

• Weitere Untersuchungsmöglichkeiten

  Capable of measuring surface topography and roughness

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Jürgen Horvath
  Fachbereich 4
  Advanced Ceramics IW3 / 2150
  Telefonnummer 042121864934
  horvathprotect me ?!uni-bremenprotect me ?!.de
• Führender Anwendungswissenschaftler

  Kurosch Rezwan
  

Gerätestandort

• Gruppe

  Advanced Ceramics
• Gebäude

  IW3
• Raum

  2380
• Fachbereich

  Fachbereich 4