Instrument Database
Electron Microscopy
Auriga 40 Scanning Electron Microscope

Allgemeine Informationen
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Untersuchungsgebiete
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TechnikenScanning Electron Microscopy
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HerstellerZeiss
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Herstellungsjahr2012
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Gemessene GrößeDimensions, surface morphology, composition
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HauptanwendungMicroscopy with up to nm resolution, material characterization
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Korrelierter Arbeitsablauf verfügbarJa
Spezifikationen des Geräts
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Technische Aspkete
Auriga 40 from Zeiss - FIBSEM - with energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS) from Oxford - X-max 150, In-lens-detector for high resolution, energy selective backscatter electron (EsB)-detector for low kV-range, charge compensation (CC), backscatter detector for high kV range
holders for 4 and 6 inch wafers, 9-stub-holder for 12,5 mm diameter pin stubs, holder for one dove tail stub
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Korrelierter ArbeitsablaufX-ray microscopy (XRM)
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Weitere UntersuchungsmöglichkeitenLift-out system for TEM lamella preparation
Kontaktperson
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AnwendungswissenschaftlerEva-Maria Meyer
Fachbereich 1
NW1 / O 01120
Telefonnummer 421 218 62617
emeyerprotect me ?!imsas.uni-bremenprotect me ?!.de -
Führender AnwendungswissenschaftlerBjörn Lüssem
Gerätestandort
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GebäudeNW1
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RaumO0080
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FachbereichFachbereich 1
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Institut Der Universität BremenIMSAS