Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  Surface Analytics
• Techniken

  Atomic Force Microscopy
  
• Hersteller

  JPK Berlin Germany
• Herstellungsjahr

  2012
• Hauptanwendung

  Surface analysis, morphology of nanomaterials, interaction between biomolecules and interfaces.
• Einrichtung

  Der Zugang zu diesem Gerät ist über die MAPEX Core Facility for Materials Analytics möglich.

Spezifikationen des Geräts

• Technische Aspkete

  For solid sample, its surface should be flat with nanoscale roughness. The dimension can be 1cm*1cm or bigger. For the liquid sample like nanoparticles, the sample should be dropped onto a flat substrate like silica wafer or mica, and the sample can be measured after it is dried. For the force spectroscopy measurement, it is necessary to contact with Dr. Wei or Miss. Li before the experiments because there are special needs for the modification of substrates and AFM probes.

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Yendry Corrales Ureña
  Fachbereich 4
  Hybrid Materials Interfaces, TAB-Building, Room 3.35
  Telefonnummer 0421 218 64581
  reginacoprotect me ?!hmi.uni-bremenprotect me ?!.de
• Lucio Colombi Ciacchi
  Fachbereich 4
  Hybrid Materials Interfaces, TAB-Building, Room 3.30
  Telefonnummer +49 421 218 64570
  colombiprotect me ?!hmi.uni-bremenprotect me ?!.de
• Führender Anwendungswissenschaftler

  Lucio Colombi Ciacchi
  

Gerätestandort

• Fachbereich

  Fachbereich 4
• Institut Der Universität Bremen

  UFT