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Surface Analytics
Dual Beam Helios G4 PFIB

Allgemeine Informationen
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Untersuchungsgebiete
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TechnikenElectron/Ion beam
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HerstellerThermoFisher
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Herstellungsjahr2020
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Gemessene GrößeSurface topography, spatially resolved determination of chemical composition, determination of texture and crystal orientation; determination of surface chemical composition
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HauptanwendungImaging of the surface (including SE, BSE) with various additional detectors including STEM. Analysis by EDX, EBSD and ToF-SIMS. Ablation by ion beam incl. slicing and 3D imaging.
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In-situ, real-time kompatibelJa
Spezifikationen des Geräts
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Technische Aspkete
Various detectors including STEM detector, EDX detector, EBSD detector, ToF-SIMS detector, ion beam for material removal, production of TEM lamellae for further analysis, investigation of material volumes (3D reconstruction)
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In-situ-Möglichkeiten
Kontaktperson
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AnwendungswissenschaftlerAndree Irretier
Fachbereich 4 , IWT
1220
Telefonnummer 0421 218 51419
irretierprotect me ?!mpa-bremenprotect me ?!.de -
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Führender AnwendungswissenschaftlerRainer Fechte-Heinen
Gerätestandort
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GebäudeLFM
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Raum0090
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Institut (Außeruniversitär)IWT