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Allgemeine Informationen

  • Untersuchungsgebiete
  • Techniken
    Atomic Force Microscopy
  • Hersteller
    Bruker
  • Herstellungsjahr
    2021
  • Gemessene Größe
    RMS, surface morphology
  • Hauptanwendung
    Measuring of surface morphology

Spezifikationen des Geräts

  • Technische Aspkete

    Features of the AFM: ScanAsyst, DCUBE-TUNA, DCUBE-SCM, FAST TAPPING, KPFM,  NanoLithography, NanoMan, NanoScope Realtime, PeakForce QNM, Ramp&Hold

Kontaktperson

Gerätestandort

  • Gruppe
    AG Festkörpermaterialien
  • Gebäude
    NW1
  • Raum
    O0070
  • Fachbereich
    Fachbereich 1
  • Institut Der Universität Bremen
    IFP
Aktualisiert von: MAPEX