Instrument Database
Surface Analytics
Dimension Icon XR

Allgemeine Informationen
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Untersuchungsgebiete
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TechnikenAtomic Force Microscopy
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HerstellerBruker
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Herstellungsjahr2021
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Gemessene GrößeRMS, surface morphology
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HauptanwendungMeasuring of surface morphology
Spezifikationen des Geräts
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Technische Aspkete
Features of the AFM: ScanAsyst, DCUBE-TUNA, DCUBE-SCM, FAST TAPPING, KPFM, NanoLithography, NanoMan, NanoScope Realtime, PeakForce QNM, Ramp&Hold
Kontaktperson
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AnwendungswissenschaftlerEickhoff, Martin
Fachbereich 1
NW1 M4070 Institut für Festkörperphysik
Telefonnummer 0421 218 62220
martin.eickhoffprotect me ?!uni-bremenprotect me ?!.de -
Hinz, Alexander
Fachbereich 1
NW1 M4100 Institut für Festkörperphysik
Telefonnummer 0421 218 62216
ahinzprotect me ?!uni-bremenprotect me ?!.de -
Führender AnwendungswissenschaftlerEickhoff, Martin
Gerätestandort
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GruppeAG Festkörpermaterialien
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GebäudeNW1
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RaumO0070
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FachbereichFachbereich 1
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Institut Der Universität BremenIFP