Allgemeine Informationen

• Untersuchungsgebiete

  3D Materials Analytics

  Electron Microscopy

  Surface Analytics
• Techniken

  Scanning Electron Microscopy
  
• Hersteller

  FEI / ThermoFisher
• Herstellungsjahr

  2010
• Hauptanwendung

  Surface characterisation (topology & chemical composition), FIB-CS, TEM-lamellae preparation, Cryo-FIB, Slice&View

Spezifikationen des Geräts

• Technische Aspkete

  FEG , Ga+- Sidewinder , Quorum PP2000T Cryosystem , Oxford Xmax80 SD-Detector , Omniprobe , Detectors : ETD , TLD , CDEM , CBS & STEM

Kontaktperson

• Anwendungswissenschaftler

  Karsten Thiel
  , IFAM
  
  Telefonnummer 0421 2246 7400
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• Führender Anwendungswissenschaftler

  Karsten Thiel
  

Gerätestandort

• Institut (Außeruniversitär)

  IFAM