Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
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Gerät
HerstellerSTA449F3 Jupiter
NetzschUntersuchungsgebieteTechnikThermogravimetric Analysis
KernmerkmaleTG and DSC analysis from RT to 1550°CKontakt -
Gerät
HerstellerX'Pert Pro
PanalyticalUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleSample changer for batch measurement of up to 16 samplesKontakt -
Gerät
HerstellerBruker D8 Advance
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleBragg Brentano and capillary transmission geometries; Mo and Cu sources; In-situ heating and coolingKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray Diffraction
Kernmerkmalemonochromatic Mo K_alphaKontakt -
Gerät
HerstellerCircular Dichroism Spectrometer
Applied PhotophysicsUntersuchungsgebieteTechnikCircular Dichroism Spectrometry
KernmerkmaleSurface and interface characterization; (Secondary) structure detection of biomoleculesKontakt -
Gerät
HerstellerJPK Nanowizard III
JPK Berlin GermanyUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
KernmerkmaleSub-nm resolution; Compatible with liquid and biological samples; Force spectroscopy mode availableKontakt -
Gerät
HerstellerHg Porosimeter Pascal 140 and 440
POROTEC GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPorosimetry
KernmerkmaleQuantification of meso- and macropores by a pressure driven method using HgKontakt -
Gerät
HerstellerLFA 457 MicroFlash
NetzschUntersuchungsgebieteTechnikLaser Flash
KernmerkmaleThermal Diffusivity; Thermal ConductivityKontakt -
Gerät
HerstellerXRD 3003
GE Sensing & Inspection Technologies GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmalePowder diffractometerKontakt -
Gerät
HerstellerPycnomatic ATC
PorotecUntersuchungsgebieteTechnikPycnometry
KernmerkmaleMeasurement at 20°C using He as test gasKontakt -
Gerät
HerstellerSTA 503
Bähr-Thermoanalyse GmbHUntersuchungsgebieteTechnikThermogravimetric Analysis
Differential Scanning Calorimetry
KernmerkmaleMeasurement under N2 or AirKontakt -
Gerät
HerstellerSurPass streaming potential measurement
Anton PaarUntersuchungsgebieteTechnikZeta potential
KernmerkmaleAnalysis of bulk material, flat surfaces, porous samples, particles or beadsKontakt -
Gerät
HerstellerTA Instruments DHR-3
TA InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikRheology
KernmerkmaleEquipped with a 2-d couette interfacial shear geometryKontakt -
Gerät
HerstellerMalvern Kinexus Pro
MalvernUntersuchungsgebieteTechnikRheology
KernmerkmaleEquipped with a 2-d couette interfacial shear geometryKontakt -
Gerät
HerstellerBELSORP-mini
MicrotracBEL Corp.UntersuchungsgebieteTechnikVolumetric Gas Adsorption
KernmerkmaleSpecific surface area; Pore size distribution; N2 and CO2 adsorption; BETKontakt -
Gerät
HerstellerMalvern Zetasizer ZSP
MalvernUntersuchungsgebieteTechnikZeta potential
KernmerkmaleEquipped with a titration unitKontakt -
Gerät
HerstellerPLµ2300 Sensofar
Sensofar-Tech, S.L.UntersuchungsgebieteTechnik3D Profilometery
KernmerkmaleConfocal conventional and interferometer microscopeKontakt -
Gerät
HerstellerGleeble 3500
Dynamic SystemsUntersuchungsgebieteTechnikMechanical testing
Kernmerkmalehot tensile test, phase transformation, heat treatment, dilatometer, quenchingKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikElectron Microprobe Analysis
Kernmerkmale5 x-ray spectrometers, one for light elementsKontakt -
Gerät
HerstellerJSM-6510 SEM
JeolUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleSE and BE detectors; EDX detector for quantitative chemical analysisKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikX-ray computed tomography
KernmerkmaleHigh energy X-ray source, suitable for metal samplesKontakt -
Gerät
HerstellerMorphologi G3
MalvernUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopy
KernmerkmaleHigh resolution for small particles (d>10 µm); Additional matlab scripts for enhanced analysisKontakt -
Gerät
HerstellerMalvern Mastersizer 2000
MalvernUntersuchungsgebieteTechnikLaser Diffraction
KernmerkmaleWet dispersion of the sample, particle size range from 20 nm up to 2000 µmKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray Diffraction
KernmerkmaleIn-situ measurements from 100 K to 293 KKontakt -
Gerät
HerstellerOmicron STM/XPS/LEED
OmicronUntersuchungsgebieteTechnikScanning Tunneling Microscopy, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Low-Energy Electron Microscopy
Kernmerkmalehigh resolution, in-situ ability of complementary methods under ultra-high vacuum conditionsKontakt -
Gerät
HerstellerFocused Ion Beam
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleGas injection system, e-beam writing system, energy selected backscattered electron detectionKontakt -
Gerät
HerstellerTitan 80-300 ST
FEIUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleAberration corrector for imaging lens; In-situ heating and coolingKontakt -
Gerät
HerstellerFastScanning AFM
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
KernmerkmaleFast scans (> 125 Hz) Air or fluid environments; Range of 90 µm x 90 µm; Reduced noise levelKontakt -
Gerät
HerstellerRc-VSI
Bruker/RenishawUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopy coupled with Vertical Scanning Interferometry
KernmerkmaleRaman equipped with 785 nm and 532 nm class 3B lasers; Interferometer equipped with 5x; 20x; 50x; 115x objectives; White light scanning and monochromatic phase shift modes availableKontakt -
Gerät
HerstellerXradia 520 Versa
ZEISSUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray Microscopy
KernmerkmaleHigh contrast; 3D crystallographic grain information; In-situ and 4D (time-dependent) experiments; sub-µm resolutionKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikConfocal Microscopy
KernmerkmaleTrue color images with focus in entire field of view; 3D measurementsKontakt -
Gerät
HerstellerElphy MultiBeam
RaithUntersuchungsgebieteTechnikNanopatterning and Lithography
KernmerkmaleIon beam and electron beam milling, etching and deposition; 3D ion beam and electron beam lithography.Kontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnik3D Laser Lithography
Kernmerkmale3D laser lithography; Direct laser writing; Structure fabrication; Surface modificationKontakt -
Gerät
HerstellerZwick Z 250
ZwickUntersuchungsgebieteTechnikMechanical testing
KernmerkmaleClip-OnKontakt -
Gerät
HerstellerTGA Eltra
EltraUntersuchungsgebieteTechnikThermogravimetric Analysis
KernmerkmaleTemp. Range : 20°C-1100°CKontakt -
Gerät
HerstellerTMA
TA InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikThermomechanical Analysis
KernmerkmaleTemp. Range: -50°C-420°CKontakt -
Gerät
HerstellerAR 2000 ex Rheometer
TA InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikRheology
KernmerkmaleTemp. Range 20°C-420°C; optical encoder; air bearings; furnace; platesKontakt -
Gerät
HerstellerLFA 457 MicroFlash
NetzschUntersuchungsgebieteTechnikLaser Flash
KernmerkmaleTemp. Range : -90°C-1100°CKontakt -
Gerät
HerstellerWild M420 microscope
WildUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopy
KernmerkmaleStepless magnificationKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopy
KernmerkmaleBright field; Dark field; DICKontakt -
Gerät
HerstellerAxioskop 2 plus
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopy
KernmerkmaleTransmitted light microscopeKontakt -
Gerät
HerstellerDMA
TA InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikDynamic Mechanical Analysis
KernmerkmaleTemperature range 20 - 420 °C; Optical encoder; Air bearings; FurnaceKontakt -
Gerät
HerstellerDSC Q 2000
TA InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikDifferential Scanning Calorimetry
KernmerkmaleT-Zero-Element, Auto-Sampler, Temp. Range. -90°C-420°CKontakt -
Gerät
HerstellerUniversal Testing Machine Inspekt Table
Hegewald & PeschkeUntersuchungsgebieteTechnikMechanical testing
Kernmerkmale500 N, 5 kN and 100 kN load cells; Velocity: 0.001-400 mm/min; Resolution <1 µmKontakt -
Gerät
HerstellerX-ray laboratory
VariousUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleSeveral diffractometers with different X-ray sources and capabilitiesKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopy
KernmerkmaleIR-Raman (1064 nm) when fluorescence is an issueKontakt -
Gerät
HerstellerIFS 66v/S FT-IR spectrometer
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikInfrared Spectroscopy
KernmerkmaleFIR, MIR, NIRKontakt -
Gerät
HerstellerLabRam ARAMIS
Horiba Jobin YvonUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopy
Kernmerkmale532 nm, 633 nm and 785 nm lasers; Temperature dependent measurementsKontakt -
Gerät
HerstellerSpectrometry laboratory
VariousUntersuchungsgebieteTechnikOptical Emission Spectroscopy
Glow Discharge Optical Emission Spectrometry
X-ray Fluorescence - WD-XRF
KernmerkmaleOptical Emission Spectroscopy, Glow Discharge Optical Emission SpectrometryKontakt -
Gerät
HerstellerLow-energy electron microscope
ElmitecUntersuchungsgebieteTechnikLow-energy Electron Microscopy
Kernmerkmalein situ sample preparation by molecular beam epitaxyKontakt -
Gerät
HerstellerZwick Roell Z005 - Universal testing machine
Zwick RoellUntersuchungsgebieteTechnikMechanical testing
KernmerkmaleUniversal testing machine with set-up for most standard testsKontakt -
Gerät
HerstellerVallen AMSY4-MC2
Vallen Systeme GmbHUntersuchungsgebieteTechnikAcoustic Emission
KernmerkmaleAcoustic emission; Monitors damage during mechanical testing; Two VS 600-Z2 piezoelectric AE sensors;Kontakt -
Gerät
HerstellerRoell Amsler System Rel 2100
Roell AmslerUntersuchungsgebieteTechnikMechanical testing
KernmerkmaleServo hydraulic testing; Fatigue tests; Mechanical testsKontakt -
Gerät
HerstellerGrindosonic Mk5
GrindoSonicUntersuchungsgebieteTechnikNon-destructive testing
KernmerkmaleImpulse ExcitationKontakt -
Gerät
HerstellerKappa 050 DS
Zwick RoellUntersuchungsgebieteTechnikMechanical testing
KernmerkmaleCreep tests from 25-1600°C in airKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
Kernmerkmalehigh resolution In-lens-detector, low kV ESB and high kV backscatter electronKontakt -
Gerät
HerstellerX-ray powder diffractometer Stadi MP
Stoe & Cie GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleIn-situ heating and cooling; Monochromized Mo radiation; Fast data collectionKontakt -
Gerät
HerstellerProcon CT-ALPHA
ProCon X-Ray GmbHUntersuchungsgebieteTechnikX-ray microtomography
KernmerkmaleHigh-energy and high-resolution target; Probes mm and cm-sized samples;Kontakt -
Gerät
HerstellerEM 900
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleFast morphological characterizationKontakt -
Gerät
HerstellerSpectra 300
ThermoFisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleIn-situ heating and cooling; EDX detector; Electrical biasingKontakt -
Gerät
HerstellerOCA-1
DataphysicsUntersuchungsgebieteTechnikDrop Shape Profilometry
KernmerkmaleContact angle and surface tension measurements; Dilatational viscoelastic properties of interfacesKontakt -
Gerät
HerstellerFlexPL
VariousUntersuchungsgebieteTechnikLow temperature photoluminescence
Raman spectroscopy
KernmerkmaleHigh flexibility: This is a fully customized setup for advanced spectroscopy. Thus, it can be modified to individual needs. This is not a "black-box" system as sold be various companies.Kontakt -
Gerät
HerstellerSkyScan 1275
BrukerUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray Microscopy
KernmerkmaleEasy to use, high resolution 3D X-ray microtomography and structure reconstructionKontakt -
Gerät
HerstellerHiPE-LAB
IALBUntersuchungsgebieteTechnikPower electronics testing
KernmerkmaleClimate room, electrical load system, measurement systemKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikInfrared Spectroscopy
KernmerkmaleMeasures thermo-optical properties of materials; Integrating sphereKontakt -
Gerät
HerstellerComplex Irradiation Facility
DLR Bremen, Institute of Space SystemsUntersuchungsgebieteTechnikSpace Environment Testing
KernmerkmaleExperimental research into the degradation of materials under simulated space radiation conditionsKontakt -
Gerät
HerstellerMicro-VCM Teststand
DLR BremenUntersuchungsgebieteTechnikOutgassing testing
KernmerkmaleThermal vacuum outgassing test for the screening of space materials.Kontakt -
Gerät
HerstellerLMD - Laser Metal Deposition
LunovuUntersuchungsgebieteTechnikLaser Metal Deposition
KernmerkmaleHigh-throughput generation of materials samplesKontakt -
Gerät
HerstellerCryo-Charpy Impact test HIT750P
ZwickRoellUntersuchungsgebieteTechnikMechanical testing
KernmerkmaleDetermination of mechanical properties (ISO 148-1) at cryogenic temperatures (<=10K)Kontakt -
Gerät
HerstellerCryo-static/dynamic testing HB100
ZwickRoellUntersuchungsgebieteTechniktensile test
KernmerkmaleDetermination of tensile&bending properties; Fracture Toughness of Metallic Materials at cryogenic temperatures (<=10K)Kontakt -
Gerät
HerstellerDual Beam Helios G4 PFIB
ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikElectron/Ion beam
KernmerkmaleDual beam SEM (electrom, ion), EDX, EBSD, ToF-SIMSKontakt -
Gerät
HerstellerImage analysis DM6M
Leica, PixelFerberUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopy
KernmerkmaleDetermination of phase fractions, porosity metalsKontakt -
Gerät
HerstellerLEAP 5000 XR
CamecaUntersuchungsgebieteTechnikAtom Probe Tomography
KernmerkmaleAtom probe tomography is the only technique that enables the identification of all isotopes within nanometric 3D structures, thereby allowing to spatially correlate crystal defects with local chemical composition fluctuations.Kontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikMechanical testing
Kernmerkmale.Kontakt -
Gerät
HerstellerSupra 40
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleThe Inlens-Detector with its high detection efficiency allows the imaging of nanoparticles as small as 15 nm. The special electron optics, which lead to very good results, especially in low-voltage applications.Kontakt -
Gerät
HerstellerTGA / DSC3+
Mettler-Toledo AGUntersuchungsgebieteTechnikThermogravimetric Analysis
KernmerkmaleDifferent Heating Programs up to 1600°C, Measurement under synthetic air or nitrogen, Very sensitive scale, air cooled systemKontakt -
Gerät
HerstellerDSC3+
Mettler-Toledo AGUntersuchungsgebieteTechnikThermogravimetric Analysis
KernmerkmaleDifferent Heating Programs from -200 °C up to 700°C, Measurement in a closed crucible at air, Very sensitive scale, liquid nitrogen cooled systemKontakt -
Gerät
HerstellerDimension Icon XR
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
Kernmerkmale-Kontakt -
Gerät
HerstellerFlexAL ALD
Oxford InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Layer Deposition
Kernmerkmale-Kontakt -
Gerät
Hersteller(AR)XPS/UPS/LEED/TPD
SPECSUntersuchungsgebieteTechnikThermal programmed desorption
Photoemission spectroscopy
Low-energy Electron Diffraction
Kernmerkmale-Kontakt -
Gerät
HerstellerRechencluster
Megware Computer GmbHUntersuchungsgebieteTechnikMaterials Modeling
KernmerkmaleComputing cluster with a high performance network for MPI applications, including specialized nodes with GPUs and large main memory.Kontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikMaterials Modeling
KernmerkmaleAccess to the computing cluster can be set up if required, please contact the persons indicated.Kontakt -
Gerät
HerstellerHelios 600
FEI / ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleCryo-FIB, Slice&ViewKontakt -
Gerät
HerstellerQuattro S
Thermo Fisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
Thermomechanical Analysis
KernmerkmaleEnvironmental scanning of biological materials at low vacuum (up to 2000 pa) and different humidity and/or temperature conditions.Kontakt -
Gerät
HerstellerAMSY-6
Vallen Systeme GmbHUntersuchungsgebieteTechnikAcoustic Emission
Kernmerkmale4 acoustic emission channels with sampling rate of up to 40 MS/sKontakt