Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
- Gerät
HerstellerXradia 520 Versa
ZEISSUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray MicroscopyKernmerkmaleHigh contrast; 3D crystallographic grain information; In-situ and 4D (time-dependent) experiments; sub-µm resolutionKontakt - Gerät
HerstellerSpectra 300
ThermoFisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron MicroscopyKernmerkmaleIn-situ heating and cooling; EDX detector; Electrical biasingKontakt - Gerät
HerstellerTitan 80-300 ST
FEIUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron MicroscopyKernmerkmaleAberration corrector for imaging lens; In-situ heating and coolingKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmalehigh resolution In-lens-detector, low kV ESB and high kV backscatter electronKontakt - Gerät
HerstellerComplex Irradiation Facility
DLR Bremen, Institute of Space SystemsUntersuchungsgebieteTechnikSpace Environment TestingKernmerkmaleExperimental research into the degradation of materials under simulated space radiation conditionsKontakt - Gerät
HerstellerMicro-VCM Teststand
DLR BremenUntersuchungsgebieteTechnikOutgassing testingKernmerkmaleThermal vacuum outgassing test for the screening of space materials.Kontakt - Gerät
HerstellerLMD - Laser Metal Deposition
LunovuUntersuchungsgebieteTechnikLaser Metal DepositionKernmerkmaleHigh-throughput generation of materials samplesKontakt - Gerät
Hersteller(AR)XPS/UPS/LEED/TPD
SPECSUntersuchungsgebieteTechnikThermal programmed desorption
Photoemission spectroscopy
Low-energy Electron DiffractionKernmerkmale-Kontakt - Gerät
HerstellerFlexPL
VariousUntersuchungsgebieteTechnikLow temperature photoluminescence
Raman spectroscopyKernmerkmaleHigh flexibility: This is a fully customized setup for advanced spectroscopy. Thus, it can be modified to individual needs. This is not a "black-box" system as sold be various companies.Kontakt - Gerät
HerstellerLEAP 5000 XR
CamecaUntersuchungsgebieteTechnikAtom Probe TomographyKernmerkmaleAtom probe tomography is the only technique that enables the identification of all isotopes within nanometric 3D structures, thereby allowing to spatially correlate crystal defects with local chemical composition fluctuations.Kontakt