Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
- Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikElectron Microprobe AnalysisKernmerkmale5 x-ray spectrometers, one for light elementsKontakt - Gerät
HerstellerJSM-6510 SEM
JeolUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleSE and BE detectors; EDX detector for quantitative chemical analysisKontakt - Gerät
HerstellerOmicron STM/XPS/LEED
OmicronUntersuchungsgebieteTechnikScanning Tunneling Microscopy, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Low-Energy Electron MicroscopyKernmerkmalehigh resolution, in-situ ability of complementary methods under ultra-high vacuum conditionsKontakt - Gerät
HerstellerTitan 80-300 ST
FEIUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron MicroscopyKernmerkmaleAberration corrector for imaging lens; In-situ heating and coolingKontakt - Gerät
HerstellerRc-VSI
Bruker/RenishawUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopy coupled with Vertical Scanning InterferometryKernmerkmaleRaman equipped with 785 nm and 532 nm class 3B lasers; Interferometer equipped with 5x; 20x; 50x; 115x objectives; White light scanning and monochromatic phase shift modes availableKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopyKernmerkmaleIR-Raman (1064 nm) when fluorescence is an issueKontakt - Gerät
HerstellerIFS 66v/S FT-IR spectrometer
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikInfrared SpectroscopyKernmerkmaleFIR, MIR, NIRKontakt - Gerät
HerstellerLabRam ARAMIS
Horiba Jobin YvonUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopyKernmerkmale532 nm, 633 nm and 785 nm lasers; Temperature dependent measurementsKontakt - Gerät
HerstellerSpectrometry laboratory
VariousUntersuchungsgebieteTechnikOptical Emission Spectroscopy
Glow Discharge Optical Emission Spectrometry
X-ray Fluorescence - WD-XRFKernmerkmaleOptical Emission Spectroscopy, Glow Discharge Optical Emission SpectrometryKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmalehigh resolution In-lens-detector, low kV ESB and high kV backscatter electronKontakt - Gerät
HerstellerSpectra 300
ThermoFisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron MicroscopyKernmerkmaleIn-situ heating and cooling; EDX detector; Electrical biasingKontakt - Gerät
HerstellerFlexPL
VariousUntersuchungsgebieteTechnikLow temperature photoluminescence
Raman spectroscopyKernmerkmaleHigh flexibility: This is a fully customized setup for advanced spectroscopy. Thus, it can be modified to individual needs. This is not a "black-box" system as sold be various companies.Kontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikInfrared SpectroscopyKernmerkmaleMeasures thermo-optical properties of materials; Integrating sphereKontakt - Gerät
HerstellerLEAP 5000 XR
CamecaUntersuchungsgebieteTechnikAtom Probe TomographyKernmerkmaleAtom probe tomography is the only technique that enables the identification of all isotopes within nanometric 3D structures, thereby allowing to spatially correlate crystal defects with local chemical composition fluctuations.Kontakt