Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
- Gerät
HerstellerX'Pert Pro
PanalyticalUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray DiffractionKernmerkmaleSample changer for batch measurement of up to 16 samplesKontakt - Gerät
HerstellerBruker D8 Advance
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray DiffractionKernmerkmaleBragg Brentano and capillary transmission geometries; Mo and Cu sources; In-situ heating and coolingKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray DiffractionKernmerkmalemonochromatic Mo K_alphaKontakt - Gerät
HerstellerXRD 3003
GE Sensing & Inspection Technologies GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray DiffractionKernmerkmalePowder diffractometerKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray DiffractionKernmerkmaleIn-situ measurements from 100 K to 293 KKontakt - Gerät
HerstellerOmicron STM/XPS/LEED
OmicronUntersuchungsgebieteTechnikScanning Tunneling Microscopy, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Low-Energy Electron MicroscopyKernmerkmalehigh resolution, in-situ ability of complementary methods under ultra-high vacuum conditionsKontakt - Gerät
HerstellerTitan 80-300 ST
FEIUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron MicroscopyKernmerkmaleAberration corrector for imaging lens; In-situ heating and coolingKontakt - Gerät
HerstellerX-ray laboratory
VariousUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray DiffractionKernmerkmaleSeveral diffractometers with different X-ray sources and capabilitiesKontakt - Gerät
HerstellerX-ray powder diffractometer Stadi MP
Stoe & Cie GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray DiffractionKernmerkmaleIn-situ heating and cooling; Monochromized Mo radiation; Fast data collectionKontakt - Gerät
HerstellerSpectra 300
ThermoFisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron MicroscopyKernmerkmaleIn-situ heating and cooling; EDX detector; Electrical biasingKontakt - Gerät
HerstellerSkyScan 1275
BrukerUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray MicroscopyKernmerkmaleEasy to use, high resolution 3D X-ray microtomography and structure reconstructionKontakt - Gerät
HerstellerSupra 40
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleThe Inlens-Detector with its high detection efficiency allows the imaging of nanoparticles as small as 15 nm. The special electron optics, which lead to very good results, especially in low-voltage applications.Kontakt - Gerät
HerstellerDimension Icon XR
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force MicroscopyKernmerkmale-Kontakt - Gerät
HerstellerHelios 600
FEI / ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleCryo-FIB, Slice&ViewKontakt