Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
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Gerät
HerstellerX'Pert Pro
PanalyticalUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleSample changer for batch measurement of up to 16 samplesKontakt -
Gerät
HerstellerBruker D8 Advance
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleBragg Brentano and capillary transmission geometries; Mo and Cu sources; In-situ heating and coolingKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray Diffraction
Kernmerkmalemonochromatic Mo K_alphaKontakt -
Gerät
HerstellerCircular Dichroism Spectrometer
Applied PhotophysicsUntersuchungsgebieteTechnikCircular Dichroism Spectrometry
KernmerkmaleSurface and interface characterization; (Secondary) structure detection of biomoleculesKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray Diffraction
KernmerkmaleIn-situ measurements from 100 K to 293 KKontakt -
Gerät
HerstellerOmicron STM/XPS/LEED
OmicronUntersuchungsgebieteTechnikScanning Tunneling Microscopy, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Low-Energy Electron Microscopy
Kernmerkmalehigh resolution, in-situ ability of complementary methods under ultra-high vacuum conditionsKontakt -
Gerät
HerstellerTitan 80-300 ST
FEIUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleAberration corrector for imaging lens; In-situ heating and coolingKontakt -
Gerät
HerstellerFastScanning AFM
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
KernmerkmaleFast scans (> 125 Hz) Air or fluid environments; Range of 90 µm x 90 µm; Reduced noise levelKontakt -
Gerät
HerstellerXradia 520 Versa
ZEISSUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray Microscopy
KernmerkmaleHigh contrast; 3D crystallographic grain information; In-situ and 4D (time-dependent) experiments; sub-µm resolutionKontakt -
Gerät
HerstellerDMA
TA InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikDynamic Mechanical Analysis
KernmerkmaleTemperature range 20 - 420 °C; Optical encoder; Air bearings; FurnaceKontakt -
Gerät
HerstellerX-ray laboratory
VariousUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleSeveral diffractometers with different X-ray sources and capabilitiesKontakt -
Gerät
HerstellerIFS 66v/S FT-IR spectrometer
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikInfrared Spectroscopy
KernmerkmaleFIR, MIR, NIRKontakt -
Gerät
HerstellerLabRam ARAMIS
Horiba Jobin YvonUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopy
Kernmerkmale532 nm, 633 nm and 785 nm lasers; Temperature dependent measurementsKontakt -
Gerät
HerstellerLow-energy electron microscope
ElmitecUntersuchungsgebieteTechnikLow-energy Electron Microscopy
Kernmerkmalein situ sample preparation by molecular beam epitaxyKontakt -
Gerät
HerstellerX-ray powder diffractometer Stadi MP
Stoe & Cie GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleIn-situ heating and cooling; Monochromized Mo radiation; Fast data collectionKontakt -
Gerät
HerstellerSpectra 300
ThermoFisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleIn-situ heating and cooling; EDX detector; Electrical biasingKontakt -
Gerät
HerstellerSkyScan 1275
BrukerUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray Microscopy
KernmerkmaleEasy to use, high resolution 3D X-ray microtomography and structure reconstructionKontakt -
Gerät
HerstellerComplex Irradiation Facility
DLR Bremen, Institute of Space SystemsUntersuchungsgebieteTechnikSpace Environment Testing
KernmerkmaleExperimental research into the degradation of materials under simulated space radiation conditionsKontakt -
Gerät
HerstellerMicro-VCM Teststand
DLR BremenUntersuchungsgebieteTechnikOutgassing testing
KernmerkmaleThermal vacuum outgassing test for the screening of space materials.Kontakt -
Gerät
HerstellerLMD - Laser Metal Deposition
LunovuUntersuchungsgebieteTechnikLaser Metal Deposition
KernmerkmaleHigh-throughput generation of materials samplesKontakt -
Gerät
Hersteller(AR)XPS/UPS/LEED/TPD
SPECSUntersuchungsgebieteTechnikThermal programmed desorption
Photoemission spectroscopy
Low-energy Electron Diffraction
Kernmerkmale-Kontakt