Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
-
Gerät
HerstellerSTA449F3 Jupiter
NetzschUntersuchungsgebieteTechnikThermogravimetric Analysis
KernmerkmaleTG and DSC analysis from RT to 1550°CKontakt -
Gerät
HerstellerX'Pert Pro
PanalyticalUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleSample changer for batch measurement of up to 16 samplesKontakt -
Gerät
HerstellerBruker D8 Advance
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleBragg Brentano and capillary transmission geometries; Mo and Cu sources; In-situ heating and coolingKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray Diffraction
Kernmerkmalemonochromatic Mo K_alphaKontakt -
Gerät
HerstellerCircular Dichroism Spectrometer
Applied PhotophysicsUntersuchungsgebieteTechnikCircular Dichroism Spectrometry
KernmerkmaleSurface and interface characterization; (Secondary) structure detection of biomoleculesKontakt -
Gerät
HerstellerJPK Nanowizard III
JPK Berlin GermanyUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
KernmerkmaleSub-nm resolution; Compatible with liquid and biological samples; Force spectroscopy mode availableKontakt -
Gerät
HerstellerHg Porosimeter Pascal 140 and 440
POROTEC GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPorosimetry
KernmerkmaleQuantification of meso- and macropores by a pressure driven method using HgKontakt -
Gerät
HerstellerXRD 3003
GE Sensing & Inspection Technologies GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmalePowder diffractometerKontakt -
Gerät
HerstellerBELSORP-mini
MicrotracBEL Corp.UntersuchungsgebieteTechnikVolumetric Gas Adsorption
KernmerkmaleSpecific surface area; Pore size distribution; N2 and CO2 adsorption; BETKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikElectron Microprobe Analysis
Kernmerkmale5 x-ray spectrometers, one for light elementsKontakt -
Gerät
HerstellerJSM-6510 SEM
JeolUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleSE and BE detectors; EDX detector for quantitative chemical analysisKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikX-ray computed tomography
KernmerkmaleHigh energy X-ray source, suitable for metal samplesKontakt -
Gerät
HerstellerMorphologi G3
MalvernUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopy
KernmerkmaleHigh resolution for small particles (d>10 µm); Additional matlab scripts for enhanced analysisKontakt -
Gerät
HerstellerMalvern Mastersizer 2000
MalvernUntersuchungsgebieteTechnikLaser Diffraction
KernmerkmaleWet dispersion of the sample, particle size range from 20 nm up to 2000 µmKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray Diffraction
KernmerkmaleIn-situ measurements from 100 K to 293 KKontakt -
Gerät
HerstellerOmicron STM/XPS/LEED
OmicronUntersuchungsgebieteTechnikScanning Tunneling Microscopy, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Low-Energy Electron Microscopy
Kernmerkmalehigh resolution, in-situ ability of complementary methods under ultra-high vacuum conditionsKontakt -
Gerät
HerstellerFocused Ion Beam
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleGas injection system, e-beam writing system, energy selected backscattered electron detectionKontakt -
Gerät
HerstellerFastScanning AFM
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
KernmerkmaleFast scans (> 125 Hz) Air or fluid environments; Range of 90 µm x 90 µm; Reduced noise levelKontakt -
Gerät
HerstellerXradia 520 Versa
ZEISSUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray Microscopy
KernmerkmaleHigh contrast; 3D crystallographic grain information; In-situ and 4D (time-dependent) experiments; sub-µm resolutionKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikConfocal Microscopy
KernmerkmaleTrue color images with focus in entire field of view; 3D measurementsKontakt -
Gerät
HerstellerElphy MultiBeam
RaithUntersuchungsgebieteTechnikNanopatterning and Lithography
KernmerkmaleIon beam and electron beam milling, etching and deposition; 3D ion beam and electron beam lithography.Kontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnik3D Laser Lithography
Kernmerkmale3D laser lithography; Direct laser writing; Structure fabrication; Surface modificationKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopy
KernmerkmaleBright field; Dark field; DICKontakt -
Gerät
HerstellerAxioskop 2 plus
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopy
KernmerkmaleTransmitted light microscopeKontakt -
Gerät
HerstellerX-ray laboratory
VariousUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleSeveral diffractometers with different X-ray sources and capabilitiesKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
Kernmerkmalehigh resolution In-lens-detector, low kV ESB and high kV backscatter electronKontakt -
Gerät
HerstellerX-ray powder diffractometer Stadi MP
Stoe & Cie GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray Diffraction
KernmerkmaleIn-situ heating and cooling; Monochromized Mo radiation; Fast data collectionKontakt -
Gerät
HerstellerProcon CT-ALPHA
ProCon X-Ray GmbHUntersuchungsgebieteTechnikX-ray microtomography
KernmerkmaleHigh-energy and high-resolution target; Probes mm and cm-sized samples;Kontakt -
Gerät
HerstellerEM 900
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleFast morphological characterizationKontakt -
Gerät
HerstellerSpectra 300
ThermoFisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleIn-situ heating and cooling; EDX detector; Electrical biasingKontakt -
Gerät
HerstellerSkyScan 1275
BrukerUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray Microscopy
KernmerkmaleEasy to use, high resolution 3D X-ray microtomography and structure reconstructionKontakt -
Gerät
HerstellerSupra 40
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleThe Inlens-Detector with its high detection efficiency allows the imaging of nanoparticles as small as 15 nm. The special electron optics, which lead to very good results, especially in low-voltage applications.Kontakt -
Gerät
HerstellerHelios 600
FEI / ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleCryo-FIB, Slice&ViewKontakt