Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
- Gerät
HerstellerSTA449F3 Jupiter
NetzschUntersuchungsgebieteTechnikThermogravimetric AnalysisKernmerkmaleTG and DSC analysis from RT to 1550°CKontakt - Gerät
HerstellerX'Pert Pro
PanalyticalUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray DiffractionKernmerkmaleSample changer for batch measurement of up to 16 samplesKontakt - Gerät
HerstellerBruker D8 Advance
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray DiffractionKernmerkmaleBragg Brentano and capillary transmission geometries; Mo and Cu sources; In-situ heating and coolingKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray DiffractionKernmerkmalemonochromatic Mo K_alphaKontakt - Gerät
HerstellerCircular Dichroism Spectrometer
Applied PhotophysicsUntersuchungsgebieteTechnikCircular Dichroism SpectrometryKernmerkmaleSurface and interface characterization; (Secondary) structure detection of biomoleculesKontakt - Gerät
HerstellerJPK Nanowizard III
JPK Berlin GermanyUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force MicroscopyKernmerkmaleSub-nm resolution; Compatible with liquid and biological samples; Force spectroscopy mode availableKontakt - Gerät
HerstellerHg Porosimeter Pascal 140 and 440
POROTEC GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPorosimetryKernmerkmaleQuantification of meso- and macropores by a pressure driven method using HgKontakt - Gerät
HerstellerXRD 3003
GE Sensing & Inspection Technologies GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray DiffractionKernmerkmalePowder diffractometerKontakt - Gerät
HerstellerBELSORP-mini
MicrotracBEL Corp.UntersuchungsgebieteTechnikVolumetric Gas AdsorptionKernmerkmaleSpecific surface area; Pore size distribution; N2 and CO2 adsorption; BETKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikElectron Microprobe AnalysisKernmerkmale5 x-ray spectrometers, one for light elementsKontakt - Gerät
HerstellerJSM-6510 SEM
JeolUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleSE and BE detectors; EDX detector for quantitative chemical analysisKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikX-ray computed tomographyKernmerkmaleHigh energy X-ray source, suitable for metal samplesKontakt - Gerät
HerstellerMorphologi G3
MalvernUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopyKernmerkmaleHigh resolution for small particles (d>10 µm); Additional matlab scripts for enhanced analysisKontakt - Gerät
HerstellerMalvern Mastersizer 2000
MalvernUntersuchungsgebieteTechnikLaser DiffractionKernmerkmaleWet dispersion of the sample, particle size range from 20 nm up to 2000 µmKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikSingle-crystal X-ray DiffractionKernmerkmaleIn-situ measurements from 100 K to 293 KKontakt - Gerät
HerstellerOmicron STM/XPS/LEED
OmicronUntersuchungsgebieteTechnikScanning Tunneling Microscopy, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Low-Energy Electron MicroscopyKernmerkmalehigh resolution, in-situ ability of complementary methods under ultra-high vacuum conditionsKontakt - Gerät
HerstellerFocused Ion Beam
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleGas injection system, e-beam writing system, energy selected backscattered electron detectionKontakt - Gerät
HerstellerFastScanning AFM
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force MicroscopyKernmerkmaleFast scans (> 125 Hz) Air or fluid environments; Range of 90 µm x 90 µm; Reduced noise levelKontakt - Gerät
HerstellerXradia 520 Versa
ZEISSUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray MicroscopyKernmerkmaleHigh contrast; 3D crystallographic grain information; In-situ and 4D (time-dependent) experiments; sub-µm resolutionKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikConfocal MicroscopyKernmerkmaleTrue color images with focus in entire field of view; 3D measurementsKontakt - Gerät
HerstellerElphy MultiBeam
RaithUntersuchungsgebieteTechnikNanopatterning and LithographyKernmerkmaleIon beam and electron beam milling, etching and deposition; 3D ion beam and electron beam lithography.Kontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnik3D Laser LithographyKernmerkmale3D laser lithography; Direct laser writing; Structure fabrication; Surface modificationKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopyKernmerkmaleBright field; Dark field; DICKontakt - Gerät
HerstellerAxioskop 2 plus
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopyKernmerkmaleTransmitted light microscopeKontakt - Gerät
HerstellerX-ray laboratory
VariousUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray DiffractionKernmerkmaleSeveral diffractometers with different X-ray sources and capabilitiesKontakt - Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmalehigh resolution In-lens-detector, low kV ESB and high kV backscatter electronKontakt - Gerät
HerstellerX-ray powder diffractometer Stadi MP
Stoe & Cie GmbHUntersuchungsgebieteTechnikPowder X-ray DiffractionKernmerkmaleIn-situ heating and cooling; Monochromized Mo radiation; Fast data collectionKontakt - Gerät
HerstellerProcon CT-ALPHA
ProCon X-Ray GmbHUntersuchungsgebieteTechnikX-ray microtomographyKernmerkmaleHigh-energy and high-resolution target; Probes mm and cm-sized samples;Kontakt - Gerät
HerstellerEM 900
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron MicroscopyKernmerkmaleFast morphological characterizationKontakt - Gerät
HerstellerSpectra 300
ThermoFisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron MicroscopyKernmerkmaleIn-situ heating and cooling; EDX detector; Electrical biasingKontakt - Gerät
HerstellerSkyScan 1275
BrukerUntersuchungsgebieteTechnik3D X-ray MicroscopyKernmerkmaleEasy to use, high resolution 3D X-ray microtomography and structure reconstructionKontakt - Gerät
HerstellerSupra 40
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleThe Inlens-Detector with its high detection efficiency allows the imaging of nanoparticles as small as 15 nm. The special electron optics, which lead to very good results, especially in low-voltage applications.Kontakt - Gerät
HerstellerHelios 600
FEI / ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron MicroscopyKernmerkmaleCryo-FIB, Slice&ViewKontakt