Instrument Database
MAPEX Gerätedatenbank
Finden Sie Ihre Analyse
Hier finden Sie analytische Geräte, die in den MAPEX Gruppen zur Verfügung stehen. Verschiedene Filter sowie die Suchfunktion helfen Ihnen dabei, sich über die Analysemethoden zu informieren und mit den zuständigen Gerätebetreibenden in Kontakt zu treten.
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Gerät
HerstellerTA Instruments DHR-3
TA InstrumentsUntersuchungsgebieteTechnikRheology
KernmerkmaleEquipped with a 2-d couette interfacial shear geometryKontakt -
Gerät
HerstellerPLµ2300 Sensofar
Sensofar-Tech, S.L.UntersuchungsgebieteTechnik3D Profilometery
KernmerkmaleConfocal conventional and interferometer microscopeKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikElectron Microprobe Analysis
Kernmerkmale5 x-ray spectrometers, one for light elementsKontakt -
Gerät
HerstellerOmicron STM/XPS/LEED
OmicronUntersuchungsgebieteTechnikScanning Tunneling Microscopy, X-ray Photoelectron Spectroscopy, and Low-Energy Electron Microscopy
Kernmerkmalehigh resolution, in-situ ability of complementary methods under ultra-high vacuum conditionsKontakt -
Gerät
HerstellerFocused Ion Beam
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleGas injection system, e-beam writing system, energy selected backscattered electron detectionKontakt -
Gerät
HerstellerTitan 80-300 ST
FEIUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleAberration corrector for imaging lens; In-situ heating and coolingKontakt -
Gerät
HerstellerFastScanning AFM
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
KernmerkmaleFast scans (> 125 Hz) Air or fluid environments; Range of 90 µm x 90 µm; Reduced noise levelKontakt -
Gerät
HerstellerRc-VSI
Bruker/RenishawUntersuchungsgebieteTechnikRaman spectroscopy coupled with Vertical Scanning Interferometry
KernmerkmaleRaman equipped with 785 nm and 532 nm class 3B lasers; Interferometer equipped with 5x; 20x; 50x; 115x objectives; White light scanning and monochromatic phase shift modes availableKontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnikConfocal Microscopy
KernmerkmaleTrue color images with focus in entire field of view; 3D measurementsKontakt -
Gerät
HerstellerElphy MultiBeam
RaithUntersuchungsgebieteTechnikNanopatterning and Lithography
KernmerkmaleIon beam and electron beam milling, etching and deposition; 3D ion beam and electron beam lithography.Kontakt -
Gerät
HerstellerUntersuchungsgebieteTechnik3D Laser Lithography
Kernmerkmale3D laser lithography; Direct laser writing; Structure fabrication; Surface modificationKontakt -
Gerät
HerstellerLow-energy electron microscope
ElmitecUntersuchungsgebieteTechnikLow-energy Electron Microscopy
Kernmerkmalein situ sample preparation by molecular beam epitaxyKontakt -
Gerät
HerstellerSpectra 300
ThermoFisher ScientificUntersuchungsgebieteTechnikTransmission Electron Microscopy
KernmerkmaleIn-situ heating and cooling; EDX detector; Electrical biasingKontakt -
Gerät
HerstellerComplex Irradiation Facility
DLR Bremen, Institute of Space SystemsUntersuchungsgebieteTechnikSpace Environment Testing
KernmerkmaleExperimental research into the degradation of materials under simulated space radiation conditionsKontakt -
Gerät
HerstellerLMD - Laser Metal Deposition
LunovuUntersuchungsgebieteTechnikLaser Metal Deposition
KernmerkmaleHigh-throughput generation of materials samplesKontakt -
Gerät
HerstellerDual Beam Helios G4 PFIB
ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikElectron/Ion beam
KernmerkmaleDual beam SEM (electrom, ion), EDX, EBSD, ToF-SIMSKontakt -
Gerät
HerstellerImage analysis DM6M
Leica, PixelFerberUntersuchungsgebieteTechnikLight microscopy
KernmerkmaleDetermination of phase fractions, porosity metalsKontakt -
Gerät
HerstellerLEAP 5000 XR
CamecaUntersuchungsgebieteTechnikAtom Probe Tomography
KernmerkmaleAtom probe tomography is the only technique that enables the identification of all isotopes within nanometric 3D structures, thereby allowing to spatially correlate crystal defects with local chemical composition fluctuations.Kontakt -
Gerät
HerstellerSupra 40
ZeissUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleThe Inlens-Detector with its high detection efficiency allows the imaging of nanoparticles as small as 15 nm. The special electron optics, which lead to very good results, especially in low-voltage applications.Kontakt -
Gerät
HerstellerDimension Icon XR
BrukerUntersuchungsgebieteTechnikAtomic Force Microscopy
Kernmerkmale-Kontakt -
Gerät
Hersteller(AR)XPS/UPS/LEED/TPD
SPECSUntersuchungsgebieteTechnikThermal programmed desorption
Photoemission spectroscopy
Low-energy Electron Diffraction
Kernmerkmale-Kontakt -
Gerät
HerstellerHelios 600
FEI / ThermoFisherUntersuchungsgebieteTechnikScanning Electron Microscopy
KernmerkmaleCryo-FIB, Slice&ViewKontakt